芯片檢測儀功能

芯片檢測儀激發(fā)光應直接射向微陣列上的待測樣品，通過大量一次照明的方式，待測樣品的大部分區(qū)域同時受到激發(fā)，這種方式在CCD數(shù)碼相機中較常見，該方式的缺陷是待測樣品受到的激發(fā)光不夠均勻一致。這點是芯片檢測儀設計者須考慮到的重要因素之一。